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Tek 吉時利4200A-SCS半導體參數分析儀

簡要描述:Tek 吉時利4200A-SCS半導體參數分析儀
使用吉時利4200A-SCS參數分析儀(參數測試儀) 加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。 4200A-SCS是業內性能位于前列電學特性半導體參數分析儀,提供同步電流電壓曲線測試(IV曲線測試)、電容電壓曲線測試(CV曲線測試)和超快脈沖IV曲線測量。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2023-11-07
  • 訪  問  量:2045

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詳細介紹

長沙艾克賽普儀器設備有限公司是一家專注于儀器工控設備、測試方案系統集成的高新技術科技企業。作為專業的儀器設備及測控集成ATE提供商,多年來堅持自主研發創新,結合引進代理各大的優質儀器設備,致力于提供更科學智能的軟硬件測試方案,廣泛應用于科研行業、生命科學、醫學、化學、化工、材料、環境、地質、能源、藥物、刑事偵查和其他相關領域。

如有需求請致電,我們將為您提供優質的測試方案。
了解更多產品和測試方案請訪問艾克賽普網站,歡迎聯系艾克賽普獲取終有效價格!

Tek  吉時利4200A-SCS半導體參數分析儀

 

參數查看,快速清晰。

推進大膽發現從未如此容易。4200A-SCS 參數分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達 50%,從而實現*的測量和分析能力。此外,嵌入式測量專業知識提供*的測試指導,并讓您對終結果充滿信息。

特點

  • 用于 DC IV、CV 和脈沖 IV 測量類型的高級測量硬件
  • 立即使用 Clarius 軟件中所含的數百種用戶可修改應用程序測試開始測試
  • 自動實時參數提取、數據繪圖、分析函數

準確的 C-V 表征

使用吉時利新出電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時利行業先進的 CVU 架構中,4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進行低噪聲電容測量。

特點

  • 同類產品中能夠驅動1 V AC 電源電壓的 CV 表
  • 1 kHz 頻率,分辨率從1 kHz 到 10 MHz
  • 測量電容、電導和導納
  • 使用 4200A-CVIV 多路開關多可測量四個通道

使用 4215-CVU 進行 Femtofarad (1e-15F) 電容測量

4200A SCS Front Femtofarad

測量、 切換、 重復。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測試設置,并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。

特點

  • 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端
  • 用戶可配置低電流功能
  • 個性化輸出通道名稱
  • 查看實時測試狀態

穩定的低電流測量,適用于 I-V 檢定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊,您可以在高電容系統中實現穩定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇,可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現場可安裝單元和可選的預放大器模塊,Keithley 可確保您獲得準確的低電流測量,而停機時間很少甚至沒有。

使用 4201-SMU 和 4211-SMU,通過高測試連接電容進行穩定的低電流測量

特點

  • 不必將儀器送回工廠即可增加 SMU
  • 進行 飛安測量
  • 多達 9 個 SMU 通道
  • 針對長電纜或大卡盤進行了優化

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案

4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器,包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點

  • “點擊”測試定序
  • “手動”探測器模式測試探測器功能
  • 假探測器模式無需移除命令即可實現調試

降低成本并保護您的投資

吉時利保障計劃以按需服務事件的一小部分成本提供快速、高質量的服務。 只需點擊一下或一個電話即可獲得維修服務,在此過程中,無需報價或填寫采購單,也不會有審批延誤。


Tek  吉時利4200A-SCS半導體參數分析儀

產品技術資料型號描述價格
查看產品技術資料4200A-SCS-PKA
高分辨率 IV 套件
4200A-SCS:參數分析儀主機
4201-SMU:兩個用于高容量設置的中功率 SMU
4200-PA:一個預放大器
8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具
索取報價
查看產品技術資料4200A-SCS-PKB
高分辨率 IV 和 CV 套件
4200A-SCS:參數分析儀主機 
4201-SMU:兩個用于高容量設置的中功率 SMU
4200-PA:一個預放大器
4215-CVU:一個高分辨率多頻 C-V 單元
8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具
索取報價
查看產品技術資料4200A-SCS-PKC
高功率 IV 和 CV 套件
4200A-SCS:參數分析儀主機
4201-SMU:兩個用于高容量設置的中功率 SMU
4211-SMU:兩個用于高容量設置的高功率 SMU
4200-PA:兩個預放大器
4215-CVU:一個高分辨率多頻 C-V 單元
8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具
索取報價
查看產品技術資料4200-BTI-A
超快 NBTI/PBTI 套件
用于使用硅 CMOS 技術進行的復雜 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 套件包括:
  • 1 個 4225-PMU 超快 I-V 模塊
  • 2 個 4225-RPM 遠程預放大器/開關模塊
  • 自動化檢定套件 (ACS) 軟件
  • 超快 BTI 測試項目模塊
  • 布線
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